Представление документа в формате MARC21

Поле Инд. ПП Название Значение
Тип записи a
Библиографический уровень m
001 Контрольный номер RU/IS/BASE/227013899
005 Дата корректировки 20230504110718.7
020 00 a ISBN 5-02-024956-4
c Цена, тираж 20-00
084 a Индекс другой классификации/Индекс ББК 22.37
090 a Полочн. индекс 22.3
x Авторский знак Р 94
100 10 a Автор Рыков С. А.
245 00 a Заглавие Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур
b Продолж. заглавия учеб. пособие для вузов
c Ответственность под общ. ред. В. И. Ильина, А. Я. Шика
260 00 a Место издания Санкт-Петербург
b Издательство Наука
c Дата издания 2001
300 00 a Объем 52 с.
b Иллюстрации/ тип воспроизводства ил.
440 00 a Серия Новые разделы физики полупроводников
500 00 a Примечание (Федерал.целевая программа "Гос.поддержка интеграции высш.образования и фундаментальной науки")
650 _4 a Основная рубрика Полупроводники-Учебные издания для высших учебных заведений
650 14 a Основная рубрика Наноструктуры-Учебные издания для высших учебных заведений
653 00 a Ключевые слова Микроскопы
a Ключевые слова Наноструктуры
a Ключевые слова Полупроводники
901 t Тип документа m
952 c Вид литературы учебное пособие
990 00 f Даты поступлений (DOS) 04.02