Представление документа в формате MARC21

Поле Инд. ПП Название Значение
Тип записи a
Библиографический уровень m
001 Контрольный номер RU/LIBMSTU/230721565
005 Дата корректировки 20161124144844.4
020 00 a ISBN 5-94010-214-Х
c Цена, тираж 154-69
084 a Индекс другой классификации/Индекс ББК 22.37
090 00 a Полочн. индекс 22.3
x Авторский знак Л 69
100 10 a Автор Логинов Ю. Ю.
245 00 a Заглавие Закономерности образования структурных дефектов в полупроводниках А2В6
260 00 a Место издания Москва
b Издательство Логос
c Дата издания 2003
300 00 a Объем 304 с.
650 _4 a Основная рубрика Полупроводники-Физика; Кристаллография
653 00 a Ключевые слова Кремний
a Ключевые слова Монокристаллы
a Ключевые слова Полупроводники А2В6
a Ключевые слова Структурные дефекты
a Ключевые слова Широкозонные полупроводники
a Ключевые слова Эпитаксиальные структуры
700 10 a Другие авторы Браун Пол Д.
700 10 a Другие авторы Дьюроуз К.
901 t Тип документа m
990 00 f Даты поступлений (DOS) 11.03