| Поле | Инд. | ПП | Название | Значение |
|---|---|---|---|---|
| Тип записи | a | |||
| Библиографический уровень | m | |||
| 001 | Контрольный номер | RU/LIBMSTU/265132191 | ||
| 005 | Дата корректировки | 20160127104219.6 | ||
| 020 | 00 | a | ISBN | 5-94836-018-0 |
| c | Цена, тираж | 275-00 | ||
| 084 | a | Индекс другой классификации/Индекс ББК | 34.204.01 | |
| 090 | 00 | a | Полочн. индекс | 34 |
| x | Авторский знак | Б 87 | ||
| 100 | 10 | a | Автор | Брандон Д. |
| 245 | 00 | a | Заглавие | Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля |
| b | Продолж. заглавия | учеб. пособие | ||
| c | Ответственность | пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова, с доп. О. В. Егоровой | ||
| 260 | 00 | a | Место издания | Москва |
| b | Издательство | Техносфера | ||
| c | Дата издания | 2004 | ||
| 300 | 00 | a | Объем | 377 с. |
| 440 | 00 | a | Серия | Мир материалов и технологий |
| v | N тома | 6-02 | ||
| 650 | _4 | a | Основная рубрика | Материаловедение-Учебные издания для высших учебных заведений |
| 653 | 00 | a | Ключевые слова | Количественный микроанализ |
| a | Ключевые слова | Кристаллическая структура | ||
| a | Ключевые слова | Материаловедение | ||
| a | Ключевые слова | Микроанализ | ||
| a | Ключевые слова | Микроструктура | ||
| a | Ключевые слова | Оптическая микроскопия | ||
| a | Ключевые слова | Рентгеновский анализ | ||
| a | Ключевые слова | Химический анализ | ||
| a | Ключевые слова | Электронная микроскопия | ||
| 700 | 10 | a | Другие авторы | Каплан У. |
| 952 | b | Гриф литературы для ВШ | Рекомендовано Ин-том химической физики РАН | |
| c | Вид литературы | учебное пособие | ||
| 990 | 00 | f | Даты поступлений (DOS) | 10.05 |