| Поле | Инд. | ПП | Название | Значение |
|---|---|---|---|---|
| Тип записи | a | |||
| Библиографический уровень | m | |||
| 001 | Контрольный номер | RU/LIBMSTU/351603455 | ||
| 005 | Дата корректировки | 20190425104344.4 | ||
| 084 | a | Индекс другой классификации/Индекс ББК | 34.204.01 | |
| 090 | 00 | a | Полочн. индекс | 34 |
| x | Авторский знак | О-75 | ||
| 245 | 00 | a | Заглавие | Основы аналитической электронной микроскопии |
| b | Продолж. заглавия | пер. с англ. | ||
| c | Ответственность | под ред. Дж. Дж. Грена [и др.] | ||
| 260 | 00 | a | Место издания | Москва |
| b | Издательство | Металлургия | ||
| c | Дата издания | 1990 | ||
| 300 | 00 | a | Объем | 584 с. |
| 650 | 00 | a | Основная рубрика | Электронная микроскопия металлов и сплавов |
| 653 | 00 | a | Ключевые слова | Металловедение |
| a | Ключевые слова | Электронная микроскопия | ||
| 901 | t | Тип документа | m |